Open AccessInterferometría óptica para medidas de traslación piezoeléctrica
Author(s) -
Albert Reyna Ocas,
Ilich Contreras Verástegui,
Whualkuer Lozano Bartra
Publication year - 2011
Publication title -
revista de investigación de física/revista de investigación de física
Language(s) - Spanish
Resource type - Journals
eISSN - 1728-2977
pISSN - 1605-7724
DOI - 10.15381/rif.v14i01.8727
Subject(s) - physics , political science
En este trabajo usamos un simple interferómetro de Michelson para caracterizar la deformación de un material piezoeléctrico en función del voltaje y la frecuencia aplicada. Se obtuvieron los parámetros de los factores de calidad del piezoeléctrico, tales como, la frecuencia de resonancia, la constante de amortiguamiento y el factor de mérito, modelando su comportamiento como un oscilador forzado.