Infrarot‐Spektren der Tetraeder‐lonen Si 4 4− und Ge 4 4−

Die schon früher röntgenographisch untersuchten tetraedrischen, mit P 4 und As 4 isoelektronischen Ionen Si   4 4−und Ge   4 4−wurden an Na 4 Si 4 , K 4 Si 4 , Rb 4 Si 4 , Cs 4 Si 4 , Ba 4 Si 4 und K 4 Ge 4 IR‐spektroskopisch untersucht. In den K‐, Rb‐ und Cs‐Verbindungen läßt sich im fernen IR die F 2− Schwingung des Tetraeders beobachten, die der Raum‐Gruppe P 4 3n–T   d 4entsprechend in 2–3 Komponenten aufgespalten ist. Aus den IR‐Frequenzen ∼345 cm −1 (Si   4 4− ) und ∼195 cm −1 (Ge   4 4− ) lassen sich mit ∼1,05 bzw. ∼0,87 mdyn/Å die kleinsten, bisher gefundenen Kraftkonstanten der SiSi‐ bzw. GeGe‐Bindung abieiten.