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Synthese und kristallographische Eigenschaften einiger Phasen im System SiO 2 –P 2 O 5
Author(s) -
Liebau F.,
Bissert G.,
Köppen N.
Publication year - 1968
Publication title -
zeitschrift für anorganische und allgemeine chemie
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.354
H-Index - 66
eISSN - 1521-3749
pISSN - 0044-2313
DOI - 10.1002/zaac.19683590302
Subject(s) - tetragonal crystal system , crystallography , chemistry , crystal structure
Abstract Es werden 5 verschiedene Phasen der Zusammensetzung SiO 2 · P 2 O 5 beschrieben, die strukturell miteinander nahe verwandt sind; eine ist kubisch, eine rhombisch, zwei sind monoklin, und eine ist wahrscheinlich tetragonal. Zwei weitere Phasen der gleichen Zusammensetzung sind hexagonal bzw. pseudohexagonal und ebenfalls strukturell miteinander nahe verwandt, weniger jedoch mit den vorgenannten 5 Phasen. Außerdem existiert im System SiO 2 –P 2 O 5 eine hexagonale Phase wechselnder Zusammensetzung, die wahrscheinlich durch die Formel Si 1+s5x P 4(7‐x) O 72 wiederzugeben ist. Die Phasengrenzen erstrecken sich über den Bereich ∼2,5 < × < ∼3,5 und schließen die Zusammensetzungen 3 SiO 2 · 2 P 2 O 5 [ Si 3 (PO 4 ) 4 ] und 2 SiO 2 · P 2 O 5 [dbond; Si 2 P 2 O 9 ] ein. Die Gitterkonstanten dieser Phase ändern sich nur wenig mit der Temperatur. bei der die Proben hergestellt wurden. Gitterkonstanten (zumeist aus Einkristall‐Röntgenaufnahmen gewonnen) und kristalloptische Daten der einzelnen Phasen werden angegeben und strukturelle Beziehungen diskutiert. Einige weitere Phasen konnten bisher nicht hinreichend charakterisiert werden.