Spektroskopische Untersuchungen an Siliciumverbindungen. VIII. Die Schwingungsspektren einiger Tetramethyldisiloxane

Die Raman‐ und IR‐Spektren der Verbindungen X(CH 3 ) 2 SiOSi(CH 3 ) 2 X (X = H, OH, Cl und C 6 H 5 ) werden mitgeteilt und die Frequenzen den einzelnen Schwingungsformen zugeordnet. Der Gang der Valenzfrequenzen des Gerüstes wird kurz diskutiert. Für das Tetramethyldioxydisiloxan wird die angenäherte Valenzkraftkonstante für die Siloxanbindung zu 4,9 7 mdyn/Å berechnet.