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Totalreflexions‐Röntgenfluoreszenzanalyse
Author(s) -
Wobrauschek P.,
Aiginger H.
Publication year - 1979
Publication title -
x‐ray spectrometry
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.447
H-Index - 45
eISSN - 1097-4539
pISSN - 0049-8246
DOI - 10.1002/xrs.1300080204
Subject(s) - physics
Abstract Energiedispersive Röntgenfluoreszenzanalyse ermöglicht die rasche und gleichzeitige Bestimmung verschiedener Elemente in einer Probe. Die bei Winkeln von einigen Minuten auftretende Totalreflexion von Röntgenstrahlen an der polierten Oberfläche eines Probenträgers, z.B. Quarzglas, und eine spezielle Geometrie‐Primärstrahl‐Probe‐Detektor wird dazu verwendet, um den durch klassische und Compton‐Streuung hervorgerufenen Hintergrund zu senken. Dadurch konnten Nachweisgrenzen für Elemente mittlerer Ordnungszahl im Nanogrammbereich erzielt werden. Tritt Totalreflexion von Röntgenstrahlen auf, so dringen diese nur in einer Tiefe von etwa 40–70 nm in den Probenträger ein und bestimmen dadurch die effektive Dicke. Man verbindet daher mechanische Festigkeit, chemische Widerstandsfähigkeit und beliebige Dimensionierung des Probenträgers mit den für geringen Hintergrund günstigen Eigenschaften extrem dünner Folien. Standardmeßzeiten von 120s und ein Probenvolumen von 5 μl sind ausreichend, um Konzentrationen im ppm Bereich, d.h. Absolutmengen von Nanogramm mit RFA nachzuweisen.

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