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Raster‐Tunnel‐Mikroskopie zur Untersuchung und Modifizierung von Festkörperoberflächen
Author(s) -
Hietschold Michael
Publication year - 1992
Publication title -
vakuum in forschung und praxis
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.213
H-Index - 13
eISSN - 1522-2454
pISSN - 0947-076X
DOI - 10.1002/vipr.2230040308
Subject(s) - chemistry , materials science
Es wird ein kurzer Überblick zu den Möglichkeiten und Perspektiven der Raster‐Tunnel‐Mikroskopie (STM) gegeben. Ultrahochvakuum sichert — obwohl für die STM‐Funktion selbst nicht unbedingt erforderlich — definierte Oberflächen‐ und Tunnelbedingungen. Letztere sind besonders wichtig für das Erzielen atomarer Auflösung sowie für spektroskopische Anwendungen. Mit überzeugenden Beispielen aus der mittlerweile exzessiven Literatur wird die neue Qualität der lokalen Oberflächen‐Strukturanalyse, ‐Spektroskopie und ‐Modifikation demonstriert, die mit dem Einzug der STM sowie verwandter Raster‐Sonden‐Techniken ermöglicht worden ist.