Die Welt ist keine Scheibe

Abstract Die Atomsonden – Tomografie gewinnt vor allem mit Blick auf die ständig steigenden Anforderungen an die Leistungsfähigkeit der Analyseverfahren in der Nanotechnologie in den letzten Jahren deutlich an Bedeutung. Die heute verfügbaren Präparations‐ und Analysegeräte gestatten den Einsatz der Atomsonden‐Tomografie auch für technische Proben und bieten die einzigartige analytische Möglichkeit, die quantitative und hochempfindliche Analyse der chemischen Materialzusammensetzung mit der dreidimensionalen Erfassung der zugehörigen Elementverteilungen zu verknüpfen und dabei eine atomare Tiefen‐ und Lateralauflösung zu erreichen. Die Methode ist deshalb hervorragend geeignet, um die Zusammensetzung und Morphologie in kristallinen und amorphen Materialien und Nanostrukturen zu untersuchen und birgt enormes Potential für die Forschung und Entwicklung im Bereich der Materialwissenschaften. Der erste Teil des Beitrags über die moderne Atomsonden – Tomografie zeigt die Entwicklung der Technik von den Anfängen in den fünfziger Jahren des vorigen Jahrhunderts bis zu den heute kommerziell verfügbaren Geräten auf und geht dabei auch kurz auf die physikalischen und technisch‐instrumentellen Grundlagen des Verfahrens ein. Schwerpunkt des zweiten Teils werden ausgewählte aktuelle Anwendungsbeispiele sein, anhand derer Möglichkeiten, aber auch die Grenzen der Technik erläutert werden.