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Standardisierte Charakterisierung optischer Komponenten
Author(s) -
Ristau Detlev
Publication year - 2011
Publication title -
vakuum in forschung und praxis
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.213
H-Index - 13
eISSN - 1522-2454
pISSN - 0947-076X
DOI - 10.1002/vipr.201100456
Subject(s) - physics , humanities , philosophy
Zielsetzung des vorliegenden Beitrages ist es, einen Überblick zu den einschlägigen Messverfahren für die Bestimmung von Qualitätsparametern optischer Schichten und Laserkomponenten zu vermitteln. Im Vordergrund stehen dabei standardisierte Prüfverfahren für die spektralen Übertragungseigenschaften, für die optischen Verluste durch Streuung und Absorption, sowie die laserinduzierten Zerstörschwellen von Schichtoptiken. Die grundlegenden Prinzipien der Messverfahren werden erläutert und durch ausgewählte Beispiele illustriert. Der Beitrag soll die Messverfahren auf praktischer Ebene vorstellen und auch Hinweise für eine tiefere Einsicht in die Materie geben.
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