Einbau und Diffusion von Cu(I)‐Ionen in CsI anhand von NMR‐Messungen

Es werden die Ergebnisse von Kernresonanz‐Untersuchungen zur Diffusion in reinem und CuI dotiertem CsI vorgestellt. Ein Einfluß der Dotierung auf die Linienverschmälerung der beiden Kerne 127 I und 133 Cs wird nicht beobachtet. Aus dem Verlauf der Linienverschmälerung folgt, daß zwischen 200 und 360 °C die mittleren Sprungfrequenzen beider Wirtsteilchen von gleicher Größenordnung sind. Die mittlere Sprungfrequenz der Cu + ‐Ionen kann aus der Lebensdauer‐Verbreiterung der 127 I Kernresonanz‐Absorptionslinie ermittelt werden. Sie ist nur unwesentlich größer als die der Wirtskationen und zeigt eine ähnliche Temperaturabhängigkeit wie diese. Aus den Resultaten der Kernresonanz‐Messungen wird der Schluß gezogen, daß Cu + ‐Ionen in CsI substitutionell eingebaut werden und dem gleichen Diffusionsmechanismus wie die Cs + ‐Teilchen folgen.