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Elektronenmikroskopische Oberflächen‐ und Durchstrahlungsuntersuchungen von Eisen‐Einkristallen sowie der Einfluß der Orientierung auf deren Verfestigungsverhalten
Author(s) -
Bilger H.
Publication year - 1966
Publication title -
physica status solidi (b)
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.51
H-Index - 109
eISSN - 1521-3951
pISSN - 0370-1972
DOI - 10.1002/pssb.19660180216
Subject(s) - physics , chemistry , materials science
Die Verfestigungskurven mittelorientierter Eisen‐Einkristalle können durch 3 Verfestigungsbereiche charakterisiert werden. Oberflächenbeobachtungen lassen im Bereich I überwiegend Einfachgleitung, im Bereich II Mehrfachgleitung erkennen. Die Laufwege der Schraubenversetzungen sind in beiden Bereichen kleiner als diejenigen der Stufenversetzungen. Im Bereich III findet die Abgleitung innerhalb welliger Gleitbänder statt. Die von Beginn an starke Verfestigung randorientierter Kristalle wird durch Mehrfachgleitung verursacht.