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Photoleitungs‐ und Lebensdauermesungen an Tellur
Author(s) -
Grosse P.,
Winzer K.
Publication year - 1966
Publication title -
physica status solidi (b)
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.51
H-Index - 109
eISSN - 1521-3951
pISSN - 0370-1972
DOI - 10.1002/pssb.19660130130
Subject(s) - physics
An undotierten Tellur‐Einkristallen wurden Photoleitungs‐ und Lebensdauermessungen bei 20 bis 90 °K ausgeführt. Der für die Polarisationsrichtungen E ⟂ c und E | c auf {1010}‐Flächen bzw. E ⟂ c auf {0001}‐Flächen bestimmte spektrale Verlauf der Photoleitung wird diskutiert und zur Berechnung der Oberflächen‐Rekombinationsgeschwindigkeit verwendet. Polarisationsabhängige Oszillationen in den Photoleitungsspektren polierter Spaltflächen werden als Interferenzen in einer durch die Politur strukturgestörten Oberflächenschicht gedeutet.