Zur Deutung der elektronenmikroskopischen Kontrasterscheinungen an Fehlstellenagglomeraten in neutronenbestrahltem Kupfer

Abstract Auf Grund der Kontrastexperimente von Essmann und Wilkens [2] an neutronenbestrahltem Kupfer war es naheliegend, die von den Autoren beobachteten Schwarz‐Weiß‐Kontraste (SW‐Kontraste) als Franksche Versetzungsringe zu interpretieren. Deshalb wurde der elektronenmikroskopische Kontrast dieser Fehlstellen als Funktion der Tiefe der Ringe in der Folie, der Größe der Ringe und der elektronenmikroskopischen Abbildungsbedingungen berechnet. Der Vergleich der Rechenergebnisse mit den Experimenten führte zu dem Schluß, daß neben den Defekten durch Strahlenschädigung weitere Defekte vorhanden sein müssen. Deshalb wurden unbestrahlte, gutgeglühte einkristalline Kupferplättchen untersucht, wobei ebenfalls SW‐Kontraste beobachtet wurden, die dieselben Eigenschaften wie Franksche Versetzungsringe haben. Sie liegen aber, wie aus gezielten Experimenten folgte, nur in der Nähe der zunächst der Elektronenquelle zugewandten Oberfläche der Folie. Unter wohldefinierten Polierbedingungen konnten diese störenden SW‐Kontraste vermieden werden. Die dann an neutronenbestrahlten Kupferplättchen noch verbleibenden SW‐Kontraste zeigen Eigenschaften, die eine befriedigende Übereinstimmung mit den Rechnungen ergeben.