Untersuchungen zur Verfestigungskurve vielkristallinen Kupfers

Vielkristallines Kupfer wird bei verschiedenen Temperaturen zwischen 85 und 295 °K verformt und die Verfestigungskurve mit Hilfe der Ableitung d ϵ/ d σ in Abhängigkeit von der Spannung σ analysiert. Es zeigt sich, daß deren Verhalten bei allen Temperaturen dieselbe Bereichseinteilung der Verfestigungskurve erlaubt, die früher schon für vielkristallines Nickel nachgewiesen wurde [2, 3]. Die Abhängigkeit der charakteristischen Spannungen σ 1 , σ 2 und σ 3 von der Temperatur und Korngröße wird bestimmt und diskutiert. Temperaturwechselversuche sowie die Größe und Temperaturabhängigkeit von σ 3 deuten darauf hin, daß Quergleitung als Ursache anzunehmen ist. Ein Vergleich der Meßwerte mit kürzlich veröffentlichten theoretischen Ansätzen [1] für die Spannungen σ 1 und σ 2 ergibt befriedigende Übereinstimmung.