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Untersuchungen zur Verfestigungskurve vielkristallinen Kupfers
Author(s) -
Krause D.,
Göttler E.
Publication year - 1965
Publication title -
physica status solidi (b)
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.51
H-Index - 109
eISSN - 1521-3951
pISSN - 0370-1972
DOI - 10.1002/pssb.19650090220
Subject(s) - physics
Abstract Vielkristallines Kupfer wird bei verschiedenen Temperaturen zwischen 85 und 295 °K verformt und die Verfestigungskurve mit Hilfe der Ableitung d ϵ/ d σ in Abhängigkeit von der Spannung σ analysiert. Es zeigt sich, daß deren Verhalten bei allen Temperaturen dieselbe Bereichseinteilung der Verfestigungskurve erlaubt, die früher schon für vielkristallines Nickel nachgewiesen wurde [2, 3]. Die Abhängigkeit der charakteristischen Spannungen σ 1 , σ 2 und σ 3 von der Temperatur und Korngröße wird bestimmt und diskutiert. Temperaturwechselversuche sowie die Größe und Temperaturabhängigkeit von σ 3 deuten darauf hin, daß Quergleitung als Ursache anzunehmen ist. Ein Vergleich der Meßwerte mit kürzlich veröffentlichten theoretischen Ansätzen [1] für die Spannungen σ 1 und σ 2 ergibt befriedigende Übereinstimmung.