Premium
Elektronenmikroskopische Bestimmung der Orientierungsverteilung der Kristallite in gewalztem Kupfer
Author(s) -
Lücke K.,
Perlwitz H.,
Pitsch W.
Publication year - 1964
Publication title -
physica status solidi (b)
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.51
H-Index - 109
eISSN - 1521-3951
pISSN - 0370-1972
DOI - 10.1002/pssb.19640070303
Subject(s) - chemistry , gynecology , physics , medicine
Es wird ein Meßverfahren beschrieben, nach dem durch elektronenmikroskopische Feinbereichsbeugung die Orientierungsverteilung der Kristallite in verformten Metallblechen quantitativ bestimmt werden kann. Dieses Verfahren wird auf bei Raumtemperatur gewalztes Kupfer angewendet. Die dabei erhaltenen Ergebnisse stimmen im wesentlichen mit entsprechenden röntgenographischen Texturbestimmungen überein. Darüberhinaus zeigte sich, daß die untersuchte Kupferwalztextur keine ausgeprägten Maxima in der Orientierungsverteilung besitzt. Statt dessen wurde gefunden, daß der Hauptteil dieser Textur relativ gleichmäßig verteilt ist über einer Orientierungsbereich, der durch die Lagen (011) [21 1 ] und (112) [11 1 ] begrenzt wird.