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Anwendung elektronenmikroskopischer Feinbereichsbeugung zur Ermittlung der Walztextur von Kupfer
Author(s) -
Haessner F.,
Jakubowski U.,
Wilkens M.
Publication year - 1964
Publication title -
physica status solidi (b)
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.51
H-Index - 109
eISSN - 1521-3951
pISSN - 0370-1972
DOI - 10.1002/pssb.19640070227
Subject(s) - philosophy , physics , gynecology , humanities , medicine
Mittels elektronenmikroskopischer Feinbereichsbeugung wird an 95% gewalztem Kupfer an 600 Stellen, die über große Materialbereiche verteilt liegen, die Orientierung in bezug auf Walzrichtung und Blechebene festgestellt. Die daraus gewonnenen Polverteilungen stimmen mit den am gleichen Material röntgenographisch gemessenen (111)‐, (200)‐ und (220)‐Polfiguren überein. Die zusätzlichen Informationen, die das elektronenmikroskopische Verfahren im Vergleich zur röntgenographischen Methode zu liefern in der Lage ist, werden diskutiert.