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Elektronenmikroskopische Untersuchungen der Oberfläche von vielkristallinem Kupfer nach plastischer Verformung
Author(s) -
Derner P.
Publication year - 1963
Publication title -
physica status solidi (b)
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.51
H-Index - 109
eISSN - 1521-3951
pISSN - 0370-1972
DOI - 10.1002/pssb.19630030610
Subject(s) - chemistry , microbiology and biotechnology , physics , biology
Das Oberflächenbild des Vielkristalls zeigt gegenüber dem des Einkristalls einige Besonderheiten: Man beobachtet häufig Spuren von mehr als einer Gleitebene in einem Korn. Das Auftreten von Quergleitung und Gleitbändern bei kleinen Spannungen weist auf erhebliche lokale Spannungsüberhöhungen hin. Entlang der Korngrenzen beobachtet man häufig Stufen und kurze Gleitstrukturen. Der Einfluß der Temperatur auf diese Erscheinung und die kristallographische Orientierung der Strukturen lassen darauf schließen, daß sie durch Versetzungsbewegung hervorgerufen werden. Das Korngrenzengleiten dürfte sich vor allem bei kleinen Verformungen auf das Spannungsdehnungsdiagramm auswirken.