Drei auf einen Streich – kombinierte Röntgenanalyse mit höchster Auflösung

Funktionale Halbleiterbauteile beruhen unter anderem auf der kontrollierten Trennung von Ladungsträgern durch innere elektrische Felder, intrinsische Spannungen und/oder chemische Potentiale. Unsere internationale Gruppe mit Beteiligung der Universitäten Jena, Wien und Madrid sowie der European Synchrotron Radiation Facility, ESRF, hat eine neue Röntgenanalysemethode entwickelt, mit der sich gleichzeitig die chemische Zusammensetzung, die chemische Valenz (Oxidationsstufe und Bindungseigenschaft eines Elements) und der Ort der Ladungstrennung bestimmen lassen – sogar während des Betriebs.