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Messung atomarer elektrischer Felder
Author(s) -
MüllerCaspary Knut
Publication year - 2015
Publication title -
physik in unserer zeit
Language(s) - German
Resource type - Journals
eISSN - 1521-3943
pISSN - 0031-9252
DOI - 10.1002/piuz.201590043
Subject(s) - physics , raster graphics , computer science , computer graphics (images)
Dank der enormen Weiterentwicklung aberrationskorrigierter Elektronenoptik erreicht die Raster‐Transmissionselektronenmikroskopie (STEM) heute eine Auflösung von 50 pm (1 pm = 10 –12 m). Damit eröffnet sich der Blick in subatomare Details, wie atomare elektrische Felder oder Ladungstransfers bei chemischen Bindungen.

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