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Mikroskopie mit einer Quantenspitze
Author(s) -
Günther Andreas,
Fortágh József
Publication year - 2011
Publication title -
physik in unserer zeit
Language(s) - German
Resource type - Journals
eISSN - 1521-3943
pISSN - 0031-9252
DOI - 10.1002/piuz.201190059
Subject(s) - physics
Die Rastersondenmikroskopie zählt heute zu den bedeutendsten Analysemethoden der modernen Nanotechnologie. Dabei werden mikroskopisch kleine Festkörperspitzen über Oberflächen gerastert, um die Topographie oder andere physikalisch‐chemische Eigenschaften der Oberfläche zu kartographieren. Am Physikalischen Institut der Universität Tübingen ist es nun gelungen, ein neuartiges Rastersondenmikroskop zu entwickeln, bei dem ein verdünntes, ultrakaltes Quantengas aus wenigen tausend Rubidiumatomen als Rastersonde verwendet wird. Damit lassen sich elektromagnetische Eigenschaften und die Topographie von nanostrukturierten Oberflächen mit einer bislang unerreichten Kraftsensitivität bis unter 10 −24 N vermessen.