z-logo
Premium
Folgeentwicklungen des Rastertunnelmikroskops
Author(s) -
Fricke Jochen
Publication year - 1990
Publication title -
physik in unserer zeit
Language(s) - French
Resource type - Journals
eISSN - 1521-3943
pISSN - 0031-9252
DOI - 10.1002/piuz.19900210506
Subject(s) - physics
Durch die präzise Positionierung feinster Metallspitzen vor Oberflächen ist die Vermessung und Modifikation von Oberflächen im Nanometerbereich möglich geworden.

This content is not available in your region!

Continue researching here.

Having issues? You can contact us here