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Das Ultraschall‐Raster‐Mikroskop
Author(s) -
Baumann Joachim,
Fritsch Gerhard
Publication year - 1988
Publication title -
physik in unserer zeit
Language(s) - Uncategorized
Resource type - Journals
eISSN - 1521-3943
pISSN - 0031-9252
DOI - 10.1002/piuz.19880190103
Subject(s) - physics , materials science
Hochaufgelöste akustische Oberflächen‐, Tiefen‐ und sogar Rückseitenprofile liefern Details der Objektstruktur.