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Hochauflösende Photoemissionsmikroskopie mittels Synchrotronstrahlung
Author(s) -
Schönhense G.,
Schneider C. M.
Publication year - 1997
Publication title -
physikalische blätter
Language(s) - German
Resource type - Journals
eISSN - 1521-3722
pISSN - 0031-9279
DOI - 10.1002/phbl.19970531212
Subject(s) - physics , materials science
Die schon Anfang der dreißiger Jahre von Brüche entdeckte Emissions‐Elektronenmikroskopie bei Anregung mit Licht und Verwendung einer sog. Kathodenlinse erlebt durch die Verfügbarkeit von Synchrotronstrahlung mit hoher Brillanz einen gewaltigen Aufschwung. Während frühere Anwendungen dieser Photoemissionsmikroskope hauptsächlich auf der lateralen Variation der lokalen Austrittsarbeit beruhten, kommt bei Anregung mit durchstimmbarer Röntgenstrahlung die Möglichkeit der elementselektiven Abbildung hinzu. Ist die Strahlung darüber hinaus noch zirkular polarisiert, so läßt sich der magnetische Zirkulardichroismus zur Domänenmikroskopie ausnutzen. Durch parallele Bilderfassung sind Experimente in Echtzeit möglich: Die Auflösung liegt um 25 nm bei der Schwellen‐Photoemission und z. Zt. bei etwa 120 nm bei Anregung mit Synchrotronstrahlung.