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Atomare Auflösung auf einem Isolator mittels Rasterkraftmikroskopie
Author(s) -
Lüthi R.,
Bammerlin M.,
Meyer E.
Publication year - 1997
Publication title -
physikalische blätter
Language(s) - German
Resource type - Journals
eISSN - 1521-3722
pISSN - 0031-9279
DOI - 10.1002/phbl.19970530510
Subject(s) - materials science
Mit einem schwingenden Meßsensor läßt sich in der Rasterkraftmikroskopie echte atomare Auflösung erreichen. Erstmals gelang es nun, einzelatomare Defektstrukturen auch auf einer Isolatoroberfläche abzubilden.
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