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Nanostrukturierung mit Laserstrahlung: Im Nahfeld der Sondenspitze eines Rastertunnelmikroskops läßt sich Laserstrahlung im Nanometerbereich fokussieren
Author(s) -
Dickmann K.,
Jersch J.
Publication year - 1996
Publication title -
physikalische blätter
Language(s) - German
Resource type - Journals
eISSN - 1521-3722
pISSN - 0031-9279
DOI - 10.1002/phbl.19960520410
Subject(s) - physics , materials science
Ausgehend von der sog. Surface Enhanced Raman Spectroscopy (SERS) können unterschiedliche elektrostatische und elektrodynamische Effekte auch im Nahfeld einer Rastertunnelmikroskop‐Spitze zur Feldverstärkung führen. In einer eng begrenzten Zone im Bereich der Sondenspitze sind theoretisch Feldverstärkungen bis zu 10 3 und höher möglich. Dieser Effekt wurde ausgenutzt, um Laserstrahlung zwischen der Sondenspitze eines RTM und einem im Nahfeld befindlichen Substrat zu konzentrieren. Wie erste experimentelle Arbeiten zeigen, lassen sich mit dieser Technik unter normalen Raumbedingungen kleinste Strukturen bis zu zehn Nanometer auf einer Metallschicht herstellen. Eine Reihe von zukunftsorientierten Anwendungen sind denkbar, beispielsweise die Datenspeichertechnik mit hoher Informationsdichte oder die Herstellung von Fresnel‐Röntgenoptiken.