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Nahfeldoptik mit atomarer Auflösung?
Author(s) -
Marti O.,
Krausch G.
Publication year - 1995
Publication title -
physikalische blätter
Language(s) - German
Resource type - Journals
eISSN - 1521-3722
pISSN - 0031-9279
DOI - 10.1002/phbl.19950510608
Subject(s) - physics
Abstract Nahfeld‐optische Techniken werden intensiv erforscht und verbessert, um eine wesentlich höher ortsauflösende optische Mikroskopie zu erhalten. Anwendungen der nahfeld‐optischen Mikroskopie reichen von festkörperphysikalischen Problemen bei tiefen Temperaturen über Untersuchungen an Halbleiterproben bis zu biologischen Fragestellungen. Eine ungelöste Frage ist dabei die maximale mögliche Auflösung. In diesem Beitrag möchten wir an ausgewählten Beispielen aufzeigen, welche Konzepte verfolgt werden. Ihre Stärken und Schwächen werden kritisch analysiert und eine Wertung des Entwicklungspotentials wird versucht.