Reibungsmikroskopie

Mit dem Reibungsmikroskop, einer Weiterentwicklung des Raster‐Kraftmikroskopes, ist erstmals eine Untersuchung von Reibungsphänomenen von einzelnen, wenige Atome umfassenden Kontakten zwischen zwei Oberflächen möglich. Laterale Kräfte auf Kontakte mit Nanometer‐Ausdehnung haben neben der bekannten dissipativen Komponente (Reibung) auch konservative Anteile. Auf heterogenen Oberflächen findet man im Reibungsbild einen materialabhängigen Kontrast, der in der Topographie nicht vorhanden ist und eine Unterscheidung von Materialien erlaubt. Viele der beobachteten Phänomene sind theoretisch nur ansatzweise verstanden.