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Neues Auswertegerät für Strahlendosimeter/IR‐Detektoren von Hamamatsu/Neue Rootspumpen Serie EH/Gasreiniger für Excimer Laser/FAG Monitor FHT 65 M für α‐, β‐ und γ‐Kontaminationen/Schnelles System‐Digitalmultimeter/Kontaktfederbänder aus CuBe/Hochleistungs‐Kondensatorladegerät/Infrarot‐Interferenzfilter für den Bereich 2 bis 20 μm/Farbstoff‐Ionen‐Laser/Quadrupol‐Massenspektrometer EQ50 zur Restgas‐Analyse/IEC‐Bus Motorsteuerung Modell MC‐LO.IEC/GRANUSIC® Trockenmittel/Software für automatische Messungen im Zeitbereich/ECL‐Gate‐ Array‐Familie/Holographisches Sofortbildsystem/Fotoätzbare Glaskeramik/Ultraschall‐Niveau‐Sensor/UV‐Ozon‐Reinigungssystem/Quickszint 2000
Publication year - 1983
Publication title -
physikalische blätter
Language(s) - German
Resource type - Journals
eISSN - 1521-3722
pISSN - 0031-9279
DOI - 10.1002/phbl.19830390517
Subject(s) - excimer laser , physics , analytical chemistry (journal) , materials science , chemistry , optics , laser , chromatography