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Modellierung und Vergleich von Nanoindentationsversuchen an bleifreien Lotverbindungen durch numerische Verfahren
Author(s) -
Juritza A.,
Müller W. H.,
Sterthaus J.,
Vogliano A.,
Weinberg K.
Publication year - 2004
Publication title -
pamm
Language(s) - German
Resource type - Journals
ISSN - 1617-7061
DOI - 10.1002/pamm.200410344
Subject(s) - materials science , physics
Ziel der Nanoindentation ist die Ermittlung lokaler mechanischer Eigenschaften von Festkörpermischungen bzw. ‐legierungen, etwa mikrelektronischer Lote. Konventionelle Methoden, wie etwa der einachsige Zugversuch, führen nicht zu brauchbaren Ergebnissen, da sie die Eigenschaften des Werkstoffs für Makroproben wiedergeben. Aufgrund der Kleinheit mikroelektronischer Lotverbindungen sind solche Daten offensichtlich nur bedingt relevant. Bei der Indentation kann zum einen der Durchmesser des bleibenden Eindrucks gemessen werden, um hieraus nach der Methode von Oliver und Pharr Härte und E‐Modul zu bestimmen. Zum anderen kann die vollständige Last‐Weg‐Beziehung aufgenommen und per FE‐Modellierung analysiert werden, um darüber hinaus gehende Materialkenndaten zu extrahieren. (© 2004 WILEY‐VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim)