Eine Mehrwellenlängenmethode zur röntgenographischen Analyse oberflächennaher Eigenspannungszustände in Keramiken Herrn Prof Dr rer. nat. Hans Neff Zur Vollendung seines 70. Lebensjahres gewidmet

Abstract Wegen der Sprödigkeit Keramischer Bauteile kommt deren oberflächennahen Werkstoffzuständen für das Festigkeitsverhalten eine besondere Bedeutung zu Neben der Oberflächentopographie und den vorliegenden Gefügezuständen sind dabei insbesondere die auftretenden Eigenpannungen wichtig Für die Analyse oberflächennaher Eigenspannungen in Keramiken hat sich inzwischen die röntgenographische Methode als das Verfahren der Wahl erwiesen [1] Häufig sind die eigenspannungsbehafteten Randschichten aber sehr dünn, so daß trotz der geringen Eindringtiefe der für die Messungen verwendeten Röntgenstrahlen nur integrale Aussagen über die wirklich im Oberflächenbereich vorliegenden Eigenspannungsverläufe möglich sind Dies erschwert die Bewertung der Auswirkungen, die bestimmte Parametervariationen beider Keramikherstellung auf die Eigenspannungsausbildung haben Es wird über eine Methode berichtet, bei der mit Röntgenstrahlen unterschiedlicher Wellenlängen verschiedene Gitterebenen {hkl} in den Körnern oberflächennaher Werkstoffbereiche vermessen und steile Eigenspannungsgradienten qualitativ erfaßt werden können Beispiele entsprechender Eigenspannungsanalysen an hartbearbeiteten Keramikoberflächen werden vorgestellt und diskutiert.