Mikrostrukturelle und oberflächenanalytische Charakterisierung keramischer Verstärkungskomponenten

Abstract Verschiedene SiC‐Whisker sowie Polymer‐ bzw. CVD‐SiC Fasern und C‐Fasern wurden im Anlieferungszustand mittels Röntgendiffraktometrie, Rasterelektronenmikroskopie, analytischer Transmissionselektronenmikroskopie sowie oberflächenanalytischer Methoden (AES, XPS) mikrostrukturell untersucht. Bei der Erfassung der Verunreinigungsverteilung in keramischen Verstärkungskomponenten erwies sich die chemische Pauschalanalyse als sinnvolle Ergänzung zu den ortsauflösenden Methoden. Das gilt insbesondere für SiC‐Whisker, bei denen Strukturzustand und Reinheitsgrad deutlich von den Wachstumsbedingungen abhängen. Die untersuchten Fasern auf SiC‐Basis erwiesen sich ebenfalls als mehrphasige, nichtstöchiometrische Komponenten. Ihr Verstärkungspotential in keramischen Verbundwerkstoffen kann nicht voll ausgeschöpft werden, weil intensives SiC‐Kornwachstum bei hohen Temperaturen zu einem deutlichen Festigkeitsabfall führt.