Bruchmechanische Untersuchungen zum Kriechrißwachstum

Die Untersuchungen zeigen, daß sich das Kriechrißwachstum kontinuierlich, d. h. ohne Versuchsunterbrechung mit etwa gleicher Genauigkeit sowohl mit dem Verfahren der partiellen Entlastungen als auch mit dem Gleichstrompotentialverfahren bei Temperaturen bis zu 800°C und auch längeren Versuchsdauern (bisher bis zu 3 Monaten) ermitteln läßt. Für die beiden untersuchten Werkstoffe X6CrNi 18 11 und X10 Ni‐CrAlTi 32 20 und die betrachteten Kompaktproben und innengekerbten Flachzugproben lassen sich die Kriechrißwachstumsgeschwindigkeiten durch den Beanspruchungsparameter C* beschreiben. Eine Beschreibung durch den Spannungsintensitätsfaktor K liefert von der Probengröße bzw. Probengeometrie abhängige Rißwachstumskurven.