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Ermittlung von Spannungsintensitätsfaktoren aus Isochromaten mittels einer Vielparameter‐Vielpunkt‐Methode
Author(s) -
Rossmanith H. P.,
Hössl M.
Publication year - 1983
Publication title -
materialwissenschaft und werkstofftechnik
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.285
H-Index - 38
eISSN - 1521-4052
pISSN - 0933-5137
DOI - 10.1002/mawe.19830141105
Subject(s) - chemistry , materials science
Eine Vielparameter‐Vielpunkt‐Methode (VPVP‐Methode) zur Bestimmung von mode‐1 Spannungsintensitätsfaktoren von Rissen aus Isochromatenbildern wird entwickelt und an praktischen Beispielen geprüft. Ihre Anwendungsmöglichkeit auf Kompaktzugproben wird untersucht, wobei unterschiedliche Koeffizientenanzahlen und Datenpunktkombinationen zur Bestimmung von Spannungsintensitätsfaktoren aus verschiedenen randnahen und entfernten Isochromatenbildern um die Rißspitze in einer CT‐Probe verwendet werden.