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Der Nachweis dünner Fremdschichten auf Kontaktoberflächen
Author(s) -
Beck K.,
Schiff K.L.
Publication year - 1975
Publication title -
materialwissenschaft und werkstofftechnik
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.285
H-Index - 38
eISSN - 1521-4052
pISSN - 0933-5137
DOI - 10.1002/mawe.19750060404
Subject(s) - chemistry , physics
Der Nachweis dünner Verunreinigungsschichten auf Kontaktoberflächen wird bei den steigenden Anforderungen an die Qualität elektrischer Kontakte immer wichtiger. Am Beispiel mit Zink verunreinigter Kontaktoberflächen wird gezeigt, daß durch die Kombination von Kontaktwiderstandsmessungen und der Analyse der Oberfläche durch moderne Methoden auch sehr dünne anorganische Verunreinigungsschichten erfaßt und identifiziert werden können. Die spezifischen Oberflächenanalysenmethoden AES und SIMS sind natürlich besser geeignet als die Elektronenstrahlmikroanalyse.