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Zur Klärung von Schadensfällen bei Komplexbeanspruchung — Rasterelektronenmikroskopie
Author(s) -
Hirth F. W.,
Naumann R.,
Speckhardt H.
Publication year - 1974
Publication title -
materialwissenschaft und werkstofftechnik
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.285
H-Index - 38
eISSN - 1521-4052
pISSN - 0933-5137
DOI - 10.1002/mawe.19740050404
Subject(s) - humanities , philosophy , chemistry , physics
An verschiedenen Beispielen aus Praxis und Forschung wird die Einsatzmöglichkeit des Rasterelektronenmikroskopes (REM) für die Aufdeckung von Schadensursachen gezeigt. Es versteht sich von selbst, daß dies ohne Kenntnis der Betriebs‐ bzw. Beanspruchungsbedingungen nur in Sonderfällen möglich ist.