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Oberflächenanalytische Deckschichtenuntersuchung der Lochkorrosion (Typ I) an Kupfer
Author(s) -
Frommeyer Georg
Publication year - 1980
Publication title -
materials and corrosion
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.487
H-Index - 55
eISSN - 1521-4176
pISSN - 0947-5117
DOI - 10.1002/maco.19800310205
Subject(s) - philosophy
Typ I‐Lochkorrosion an Kupferrohren ist durch eine typische Deckschichtenausbildung des Korrosionsprodukts gekennzeichnet. Elektronenoptische und elektronenspektroskopische Analysenmethoden wie ESCA, SAM bzw. AES ermöglichen eine qualitative und quantitative Deckschichtuntersuchung und gestattet Schlußfolgerungen über die Entstehungsursache der Lochkorrosion.