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Einflußgrößen der H‐induzierten Spannungsrißkorrosion bei niedriglegierten Stählen
Author(s) -
Pöpperling R.,
Schwenk W.
Publication year - 1980
Publication title -
materials and corrosion
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.487
H-Index - 55
eISSN - 1521-4176
pISSN - 0947-5117
DOI - 10.1002/maco.19800310103
Subject(s) - chemistry , nuclear chemistry
Bei Einwirkung H 2 S‐haltiger wäßriger Medien treten neben oberflächennahen Blasen im Bereich von scharfkantigen Einschlüssen Innenrisse (HIC) und bei Vorliegen von Zugspannungen kleine transkristalline Mikrorisse quer zur Zugspannung auf, Nur die letzten führen zur Spannungsrißkorrosion. HIC‐beständige Stähle haben einen hohen Reinheitsgrad, aber keine erhöhte Beständigkeit gegen Spannungsrißkorrosion. Bei Röhrenstählen mit Streckgrenzen bis 600 N mm −2 ist die kritische Zugspannung für Spannungsrißkorrosion der Streckgrenze proportional. In H 2 S‐Lösung von pH 3 gibt es bei verschieden niedriglegierten und gewalzten Stählen keine Korrelation zwischen Standzeit und Streckgrenze. Im allgemeinen wird die Anfälligkeit durch abnehmende pH‐Werte und durch kathodische Polarisation erhöht, während die Temperatur um 20° C ein Anfälligkeitsmaximum bewirkt.