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Etude en Microspectrometrie Raman de l'Efficacite de Detection en Fonction de l'Epaisseur des Echantillons: Determination de la Profondeur de Champ et Consequences pour le Couplage avec un Microscope Electronique en Transmission
Author(s) -
Dhamelincourt P.,
Delhaye M.,
Truchet M.,
da Silva E.
Publication year - 1991
Publication title -
journal of raman spectroscopy
Language(s) - French
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.748
H-Index - 110
eISSN - 1097-4555
pISSN - 0377-0486
DOI - 10.1002/jrs.1250220204
Subject(s) - physics , humanities , art
La faisabilité du couplage d'une sonde Raman avec une microsonde de Castaing ou un microscope électronique à transmission a été étudiée dès 1986. Dans ce dernier cas, l'épaisseur d'échantillon est très faible et une série de tests a été effectuée sur un matériau modèle, le polystyrène, afin de déterminer expérimentalement la profondeur de champ, ou résolution axiale, d'un microspectrométre Raman à détection multicanale utilisé dans les conditions d'éclairement de l'échantillon et de collection de la lumière diffusée aussi proches que possible de celles correspondant au systéme Raman implanté dans le microscope électronique. Les résultats obtenus montrent que la résolution axiale observée est de l'ordre de 2 μm et qu'un spectre Raman non résonnant de bonne qualité est encore obtenu pour une épaisseur d'échantillon de 50 nm et une résolution latérale de 0.7 μm soit 2 × 10 −14 g de matériau analysé. Par des traitements numériques bien connus des signaux, il parait possible d'effectuer des mesures jusqu'à des épaisseurs de 10 nm.