Mikrosonden‐ und Röntgenbeugungs‐Untersuchungen an Tonbelägen von lessivierten Böden aus Löß

Durch Punktmessungen mit einer Mikrosonde (EMA) wurden in Boden‐Dünnschliffen von Tonanreicherungshorizonten lessivierter Böden aus Löß die Gehalte an Si, Al, K, Mg, Ca, Fe, Mn sowie Pb und Zn in Tonbelägen bestimmt. Sowohl die K‐, Mg‐, Si‐ und Al‐Gehalte, die Si;Al‐Molquotienten als auch die Auswertung von Röntgendiagrammen zeigen, daß die untersuchten Tonbeläge vorwiegend aus illitischen Tonen bestehen. Der hohe illitische Anteil ist entweder auf eine mineralspezifische Verlagerung oder auf K‐Einbau in die Zwischenschichten vormals verlagerter Smectite und aufgeweiteter Illite (sekundäre Illitisierung) zurückzuführen. Innerhalb eines Horizontes variieren die Anteile der Elemente ‐ mit Ausnahme von Fe, Mn und einigen Spurenelementen ‐ in den Tonbelägen kaum. Stark saure Bedingungen und lateral ziehendes Hangzugwasser haben bei einigen der untersuchten Horizonte vermutlich zu einer stärkeren Illitverwitterung und somit zu K‐Verlusten geführt. Die Mikroanalyse zeigt, daß Eisen‐Mangan‐Überzüge auf Tonmineralen und mikrokristalline Fe‐Mn‐Oxidanreicherungen in den Tonbelägen die bevorzugten Bindungspositionen für das Schwermetall Pb bilden. Zink wird dagegen offenbar verstärkt in K‐verarmten aufgeweiteten Illiten festgelegt.