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Ein Differenzmeßverfahren zur sehr genauen Bestimmung der Güte und Resonanzfrequenz von Mikrowellenresonatoren durch Amplitudenmodulation des Meßsignals
Author(s) -
Gundermann S.
Publication year - 1986
Publication title -
beiträge aus der plasmaphysik
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.531
H-Index - 47
eISSN - 1521-3986
pISSN - 0005-8025
DOI - 10.1002/ctpp.19860260308
Subject(s) - philosophy
In diesem Beitrag wird ein Differenzmeßverfahren angegeben, das eine sehr genaue Bestimmung der Resonanzfrequenz und Resonatorgüte auch von stark belasteten Mikrowellenresonatoren ermöglicht.
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