Bestimmung von Elektronen‐ und Ionendichten sowie von Temperaturen im Xenon‐Hochdruckplasma aus den Elektronen‐und Ionenstoßverbreiterungen von starkeffekt‐empfindlichen Xenon‐Linien

Elektronendichte und Temperatur werden im Plasma der Säule einer Xenon‐Hochdruckentladung aus den Elektronen‐ und Ionenstoßbreiten der Xenon‐Linien 4624 Å und 4671 Å bestimmt und verglichen mit Werten, die aus den Trägerstoßbreiten der Quecksilberlinie 5770 Å im gleichen Plasma erhalten werden, wenn ein geringer Zusatz von Quecksilber zum Xenon‐Grundgas gegeben wird. Gemessen wurde bei einem Druck von 22 atm bei Stromstärken von 15 A bis 30 A. Die Elektronenkonzentrationen ergaben sich zu rund 3,7 · 10 16 cm −3 bei 15 A bis 7,0· 10 16 cm −3 bei 30 A, die Temperaturen von 7340°K bis 7800°K.