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D. Lipinsky: Sekundärionen‐ und Neutralteilchenmassenspektrometrie an oxidischen Dünnschichtsystemen. deutscher universitäs‐Verlag GmbH, Wiesbaden 1995, 211 Seiten, 70 Abbildungen, 36 Tabellen, DM 48.–/ÖS 375.–/SFr 48.–, ISBN 3‐8244‐2066‐X
Author(s) -
Neumann H.
Publication year - 1996
Publication title -
crystal research and technology
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.377
H-Index - 64
eISSN - 1521-4079
pISSN - 0232-1300
DOI - 10.1002/crat.2170310505
Subject(s) - citation , von neumann architecture , library science , computer science , programming language
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