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Structural Characterization of Cut and Polished PbTe Surfaces
Author(s) -
Engel A.,
Berger H.,
Roesler H.J.
Publication year - 1982
Publication title -
crystal research and technology
Language(s) - English
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.377
H-Index - 64
eISSN - 1521-4079
pISSN - 0232-1300
DOI - 10.1002/crat.2170170711
Subject(s) - polishing , diamond , materials science , anisotropy , crystallite , machining , spark (programming language) , crystallography , metallurgy , composite material , chemistry , optics , physics , computer science , programming language
The structural perfection of PbTe slices after spark‐erosive cutting and diamond polishing was investigated removing the damaged layers step by step by chemical lap polishing. Using X‐ray diffraction rocking‐curve measurements and chemical etching, it has been shown that there exist strongly disoriented crystallites aligned preferably into the straining directions. For diamond polishing this anisotropy is stronger, but the disorientations and the damage depth are smaller than for spark‐erosive cutting. The depth of significant damage amounts to 600 m̈m altogether. The damage caused by spark erosion and diamond polishing can be described by a model according to C ole and to B ucklow and C ole modified including machining anisotropy. Die strukturelle Perfektion von PbTe‐Scheiben wurde nach dem Funkenerosionstrennen und Diamantpolieren durch schrittweises Abtragen der Deformationsschicht mit Hilfe des chemischen Wischpolierens untersucht. Durch Rockingkurven‐Messungen und chemisches Ätzen gelang der Nachweis streng disorientierter und bevorzugt in Bearbeitungsrichtung verschwenkter Kristallite. Bei der Diamantpolitur ist diese Anisotropie ausgeprägter, obwohl die Disorientierung und Schädigungstiefe kleiner als beim Funkenerosionstrennen sind. Die Tiefe der signifikanten Schädigung beträgt insgesamt etwa 600 m̈m. Die bearbeitungsinduzierten Schädigungen können durch ein Modell nach C ole und B ucklow et al. beschrieben werden, das entsprechend der verfahrensbedingten Anisotropie modifiziert wird.