J. R. Rhodes, Ch. S. Barrett, D. E. Leyden, J. B. Newkirk, P. K. Predicki, C. O. Ruud (Hrsg.). Advances in X‐Ray Analysis (vol. 23) . Berichte von der 28. Konferenz über die Anwendung der Röntgenanalyse vom 30. Juli bis 3. August 1979 in Denver, Colorado. Plenum Press, New York 1980. 390 Seiten, 189 Abbildungen, 48 Tabellen, 253 Literaturzitate, Autoren‐ und Sachregister Preis: US $ 45,–