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Eine neue absolute sin ϕ i /sin ϕ j ‐Methode für die Bestimmung von Gitterparametern
Author(s) -
Vavrda J.
Publication year - 1979
Publication title -
kristall und technik
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.377
H-Index - 64
eISSN - 1521-4079
pISSN - 0023-4753
DOI - 10.1002/crat.19790140117
Subject(s) - die (integrated circuit) , chemistry , physics , materials science , nanotechnology
Die reziproken Quadrate von Gitterparametern werden für ein‐, zwei‐ und dreiparametrige Gitter durch die Lösung von Lineargleichungen ermittelt. Die systematischen Abweichungen werden bei dieser Arbeitsweise total unterdrückt. Die Methode ist für viele Aufnahmenverfahren universell anwendbar.