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Untersuchungen zur Wachstumskinetik von Oxidschichten auf polykristallinem Wismut mit Hilfe der Röntgenphotoelektronenspektroskopie
Author(s) -
Wagner N.,
Brümmer O.
Publication year - 1978
Publication title -
kristall und technik
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.377
H-Index - 64
eISSN - 1521-4079
pISSN - 0023-4753
DOI - 10.1002/crat.19780130405
Subject(s) - physics
Photoelektronenspektroskopische Untersuchungen ergeben, daß auf einer polykristallinen Wismut‐Oberfläche ein dickenbegrenztes inhomogenes Schichtenwachstum einer Sauerstoffschicht erfolgt. Das Material wurde unter definierten Bedingungen im Labor ausgelagert. Die Wachstumskinetik wird durch einen Mehrstufenprozeß bestimmt, hervorgerufen durch lokale Unterschiede im Kontaktpotential zwischen Metall und Metalloxid. Die Unterschiede entstehen durch eine inhomogene Verteilung von Leerstellen im Kationengitter des Bi 2 O 3 . Diesen Schlußfolgerungen liegen in den Anlaufbereichen des Schichtenwachstums der Mott‐Cabrera‐Mechanismus, in den „Sättigungs” bereichen ein logarithmisches Wachstumsgesetz zugrunde. Die Modelle gestatten eine gute Beschreibung der experimentell bestimmten Wachstumsparameter.

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