Zur Anwendung elektrischer Analog‐Modelle zur Bestimmung von Temperaturfeldern bei der Kristallzüchtung

Fragen der Wärmeleitung sind für die Kristallzüchtung von zentraler Bedeutung. Die Konstruktion einer Züchtungs‐Anlage erfordert vorherige Kenntnis der zugehörigen Temperatur‐Verteilung, die auf Grund von Geometrie, Material‐Eigenschaften etc. zu erwarten ist. Da in den meisten Fällen ihre Messung oder Berechnung Schwierigkeiten macht, bietet sich die Modellierung anhand eines elektrischen Analogons an. Es werden Ergebnisse mitgeteilt, die belegen, daß diese Methode nicht nur einfach und variabel ist, sondern auch hinreichend genaue Angaben liefert.