Premium
Spektrochemische Bestimmung von Silizium in Al x Ga 1– x As und physikalische Eigenschaften der Kristalle
Author(s) -
Kühn G.,
Fischer L.,
Neumann H.,
Bindemann R.
Publication year - 1977
Publication title -
kristall und technik
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.377
H-Index - 64
eISSN - 1521-4079
pISSN - 0023-4753
DOI - 10.1002/crat.19770120114
Subject(s) - materials science , physics
Es wird eine direkte spektralanalytische Methode zur Bestimmung von Si in Al x Ga 1– x As ( x ≈ 0,8) angegeben. Die Analysen von hochdotierten (10 19 … 10 20 cm −3 ) Testproben werden mit Ergebnissen von Photolumineszenz‐ und elektrischen Messungen in Verbindung gebracht.