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Quantitative Elektronenstrahlmikroanalyse und Zyklotronresonanzmessungen an Wismut‐Antimon (Bi 1− x Sb x )
Author(s) -
Schneider G.,
Ullrich H.J.,
Oelgart G.,
Suwalski G.
Publication year - 1976
Publication title -
kristall und technik
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.377
H-Index - 64
eISSN - 1521-4079
pISSN - 0023-4753
DOI - 10.1002/crat.19760110613
Subject(s) - physics , chemistry
Für die Untersuchung der elektronischen Eigenschaften von Wismut‐Antimon‐Einkristallen ist die Analyse ihrer chemischen Zusammensetzung wichtig. Die Elektronenstrahlmikroanalyse ist eine dafür geeignete Methode. Die quantitative Elektronenstrahlmikronanalyse erfordert im allgemeinen die Berücksichtigung verschiedener Einflüsse. Das ist durch Korrekturrechnungen auf der Grundlage theoretischer Modelle möglich. Für die Reproduzierbarkeit und Vergleichbarkeit von Analysenergebnissen ist die Angabe der Meßbedingungen und der theoretischen Korrekturen notwendig. Die vorliegende Arbeit untersucht, unter welchen Bedingungen bei der Analyse wismutreicher Wismut‐Antimon‐Legierungen die Korrektur vernachlässigbar ist. Die erfolgreiche Nutzung der Elektronenstrahlmikroanalyse für die Untersuchung der Abhängigkeit der Bandstruktur des Bi 1− x Sb x von der Antimonkonzentration x wird am Beispiel von Zyklotronresonanzmessungen gezeigt.