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Helldunkel‐Struktur der Kossel‐Interferenzlinien und Kristallstruktur‐Analyse (II). Theoretische Linienprofil‐Ausläufer und Vergleich mit experimentellen Ergebnissen
Author(s) -
Stephan D.,
Ullrich H.J.,
Schulze G. E. R.
Publication year - 1976
Publication title -
kristall und technik
Language(s) - German
Resource type - Journals
SCImago Journal Rank - 0.377
H-Index - 64
eISSN - 1521-4079
pISSN - 0023-4753
DOI - 10.1002/crat.19760110503
Subject(s) - physics
Wie im Teil I dieser Arbeit gezeigt wurde, lassen sich vom Intensitätsprofil einer Kossel‐Linie am günstigsten die Profilausläufer in der Kristallstruktur‐Analyse verwerten. In diesem Teil wird der allgemeine theoretische Ausdruck für die Profilausläufer auf verschiedene praktisch vorkommende Fälle zugeschnitten und mit experimentellem Material verglichen. Als Schlußfolgerung ergeben sich zwei Einsatzmöglichkeiten der Kossel‐Linien‐Ausläufer in der Idealstruktur‐Analyse: die Verwendung der Ausläuferdaten einschließlich Phaseninformation zur Überprüfung von Strukturvorschlägen oder unter günstigen Voraussetzungen die direkte Ermittlung von Strukturamplituden‐Daten. – Mit den weitreichenden Profilausläufern können auch die in Kossel‐Aufnahmen auftretenden Schwärzungsfelder erklärt werden. Die physikalische Verwandtschaft und die Unterschiede zwischen Kossel‐Interferenzen, Weitwinkel‐Interferenzen, Kikuchi‐Linien und Channelling‐Linien werden behandelt.

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