Zur Bestimmung der Gitterkonstanten und der Orientierung nichtkubischer Kristalle mit der Pseudo‐Kossel‐Technik

Die Pseudo‐Kossel‐Technik eignet sich besonders für die Untersuchung kleiner einkristalliner Probenbereiche. In dieser Arbeit wird über ein Auswertungsverfahren für Transmissionsaufnahmen berichtet, bei dem der Abstand Röntgenstrahlquelle — Film nicht benötigt wird. Die Ermittlung des Filmmittelpunktes erfolgt im Verlauf der Auswertung; die Probe kann gegenüber der Filmebene eine beliebige Orientierung besitzen. Das Verfahren gestattet die Bestimmung des reziproken Gitters kubischer, tetragonaler, hexagonaler und rhombischer Kristalle, ohne daß Näherungswerte der Gitterparameter bekannt zu sein brauchen, und der Kristallorientierung. Gitterkonstantenbestimmungen sind mit einer Ungenauigkeit Δ a / a ≈ ≈ ± 1 · 10 −4 auch bei relativ kleinen Glanzwinkeln möglich. Die Methode wird am Beispiel des tetragonalen ZnSiP 2 demonstriert.